HL-JXM0703适用于厂矿企业、高等院校及科研机构作金相、岩相、矿相等材料表面组织结构的薄片观察检测。也可用于电子工业部门作晶体,芯片及新材料等方面的检验与分析。 产品参数: 1、三目镜筒:瞳矩50-75mm 视度±5° 2、广角目镜:10XΦ20mm 3、平场物镜: 4X, 10X, 40X(S), 100X(S、oil) 4、总放大倍数:50X-1250X 5、载物台:尺寸160mm*140mm 移动范围75mm*50mm 6、聚焦镜:可调式阿贝聚焦镜NA1.25 孔径光栏 滤色片座 7、调焦:粗微动同轴 升降范围25mm微动格值:0.002mm 8、光源:柯勒照明确正交偏振装置 滤色片座 可调卤素灯